লোডিং...
Optimization of phase contrast in bimodal amplitude modulation AFM
Bimodal force microscopy has expanded the capabilities of atomic force microscopy (AFM) by providing high spatial resolution images, compositional contrast and quantitative mapping of material properties without compromising the data acquisition speed. In the first bimodal AFM configuration, an ampl...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Beilstein-Institut
2015
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4463493/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26114079 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.108 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|