Đang tải...

Observing the morphology of single-layered embedded silicon nanocrystals by using temperature-stable TEM membranes

We use high-temperature-stable silicon nitride membranes to investigate single layers of silicon nanocrystal ensembles by energy filtered transmission electron microscopy. The silicon nanocrystals are prepared from the precipitation of a silicon-rich oxynitride layer sandwiched between two SiO(2) di...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Beilstein J Nanotechnol
Những tác giả chính: Gutsch, Sebastian, Hiller, Daniel, Laube, Jan, Zacharias, Margit, Kübel, Christian
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: Beilstein-Institut 2015
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4419582/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25977867
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.99
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!