تحميل...
Retrospective sputter depth profiling using 3D mass spectral imaging
A molecular multilayer stack composed of alternating Langmuir-Blodgett films was analyzed by ToF-SIMS imaging in combination with intermediate sputter erosion using a focused C(60)(+) cluster ion beam. From the resulting dataset, depth profiles of any desired lateral portion of the analyzed field-of...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
2011
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3863432/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24347744 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1002/sia.3509 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|