Ładuje się......
Soft X-ray and Low Energy Electron Induced Damage to DNA under N(2) and O(2) Atmospheres
DNA damage induced by low energy electrons (LEEs) and soft X-rays is measured under dry nitrogen and oxygen at atmospheric pressure and temperature. Five-monolayer plasmid DNA films deposited on tantalum and glass substrates are exposed to Al K(α) X-rays of 1.5 keV in the two different environments....
Zapisane w:
| Główni autorzy: | , , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
2011
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3846624/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21452797 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/jp200947g |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|