Φορτώνει......
High-resolution X-ray diffraction and imaging
This issue of Journal of Applied Crystallography includes some highlights of the 11th Biennial Conference on High-Resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP), held in St Petersburg in 2012.
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
|---|---|
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
International Union of Crystallography
2013
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3769075/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24046485 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S0021889813016415 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|