טוען...
High-resolution X-ray diffraction and imaging
This issue of Journal of Applied Crystallography includes some highlights of the 11th Biennial Conference on High-Resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP), held in St Petersburg in 2012.
שמור ב:
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
International Union of Crystallography
2013
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3769075/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24046485 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S0021889813016415 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|