লোডিং...
Serial sectioning for examination of photoreceptor cell architecture by focused ion beam technology
Structurally deciphering complex neural networks requires technology with sufficient resolution to allow visualization of single cells and their intimate surrounding connections. Scanning electron microscopy (SEM), coupled with serial ion ablation (SIA) technology, presents a new avenue to study the...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
2011
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3090522/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21439323 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.jneumeth.2011.03.013 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|