Ładuje się......

Tunneling microscopy of silicon and germanium

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Proc Natl Acad Sci U S A
1. autor: Becker, R. S.
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: National Academy of Sciences 1987
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.govhttps://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC305156/
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!