লোডিং...
Phase contrast coherence microscopy based on transverse scanning
We present what we believe to be a novel approach to measuring optical path length differences with a precision of a few nanometers. The instrument is based on transverse scanning or en-face optical coherence tomography. Owing to the fast motion of the scanning beam over the sample, excellent phase...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
2009
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2956977/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/19529691 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|