লোডিং...
Pindel: a pattern growth approach to detect break points of large deletions and medium sized insertions from paired-end short reads
Motivation: There is a strong demand in the genomic community to develop effective algorithms to reliably identify genomic variants. Indel detection using next-gen data is difficult and identification of long structural variations is extremely challenging. Results: We present Pindel, a pattern growt...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Oxford University Press
2009
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2781750/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/19561018 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1093/bioinformatics/btp394 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|