Lanean...
Correction for Albina et al., Depth sectioning with the aberration-corrected scanning transmission electron microscope
Gorde:
| Formatua: | Artigo |
|---|---|
| Hizkuntza: | Inglês |
| Argitaratua: |
National Academy of Sciences
2006
|
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC1748201/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1073/pnas.0609974103 |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|