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Optical Metrology under Extreme Conditions

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Xide Li, Giancarlo Pedrini, Yu Fu
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Hindawi Limited 2014-01-01
Colecção:The Scientific World Journal
Acesso em linha:http://dx.doi.org/10.1155/2014/263603
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