Optical Metrology under Extreme Conditions

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Li, Xide, Pedrini, Giancarlo, Fu, Yu
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Hindawi Publishing Corporation 2014
Assuntos:
Editorial
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4058252/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24982936
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1155/2014/263603
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