Influence Mechanism of Cu Layer Thickness on Photoelectric Properties of IWO/Cu/IWO Films

Transparent conductive IWO/Cu/IWO (W-doped In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) films were deposited on quartz substrates by magnetron sputtering of IWO and Cu in the Ar atmosphere. The X-ray diffraction (XRD) patterns identified the cubic iron&#8722;manganese ore crystal structu...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Fengbo Han, Wenyuan Zhao, Ran Bi, Feng Tian, Yadan Li, Chuantao Zheng, Yiding Wang
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI AG 2019-12-01
Loạt:Materials
Những chủ đề:
multilayer
thin film
transparent conductive
Truy cập trực tuyến:https://www.mdpi.com/1996-1944/13/1/113
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự