Influence Mechanism of Cu Layer Thickness on Photoelectric Properties of IWO/Cu/IWO Films

Transparent conductive IWO/Cu/IWO (W-doped In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) films were deposited on quartz substrates by magnetron sputtering of IWO and Cu in the Ar atmosphere. The X-ray diffraction (XRD) patterns identified the cubic iron&#8722;manganese ore crystal structu...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: Fengbo Han, Wenyuan Zhao, Ran Bi, Feng Tian, Yadan Li, Chuantao Zheng, Yiding Wang
Формат: Artigo
Язык:Inglês
Опубликовано: MDPI AG 2019-12-01
Серии:Materials
Предметы:
multilayer
thin film
transparent conductive
Online-ссылка:https://www.mdpi.com/1996-1944/13/1/113
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Схожие документы