Influence Mechanism of Cu Layer Thickness on Photoelectric Properties of IWO/Cu/IWO Films

Transparent conductive IWO/Cu/IWO (W-doped In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) films were deposited on quartz substrates by magnetron sputtering of IWO and Cu in the Ar atmosphere. The X-ray diffraction (XRD) patterns identified the cubic iron&#8722;manganese ore crystal structu...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Fengbo Han, Wenyuan Zhao, Ran Bi, Feng Tian, Yadan Li, Chuantao Zheng, Yiding Wang
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: MDPI AG 2019-12-01
סדרה:Materials
נושאים:
multilayer
thin film
transparent conductive
גישה מקוונת:https://www.mdpi.com/1996-1944/13/1/113
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים