Ładuje się......

Intense Red Catho- and Photoluminescence from 200 nm Thick Samarium Doped Amorphous AlN Thin Films

<p>Abstract</p> <p>Samarium (Sm) doped aluminum nitride (AlN) thin films are deposited on silicon (100) substrates at 77 K by rf magnetron sputtering method. Thick films of 200 nm are grown at 100&#8211;200 watts RF power and 5&#8211;8 m Torr nitrogen, using a metal target...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Ali Tariq, Maqbool Muhammad
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: SpringerOpen 2009-01-01
Seria:Nanoscale Research Letters
Hasła przedmiotowe:
XRD
AlN
Dostęp online:http://dx.doi.org/10.1007/s11671-009-9309-7
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!