Exploring the Beam Squint Effects on Reflectarray Performance: A Comprehensive Analysis of the Specular and Scattered Reflection of the Unit Cell

In this article, the phenomena of beam deviation in reflectarray is discussed. The radiation pattern of the unit cell, which plays a vital role in shaping the beam of the reflectarray, is analyzed by considering undesired specular and scattered reflections. These unwanted reflections adversely affec...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Manzoor Elahi, Amir Altaf, Slawomir Koziel, Anna Pietrenko-Dabrowska
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2024-02-01
Շարք:	Sensors
Խորագրեր:	reflectarray beam squint specular reflection scattered reflection
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/1424-8220/24/5/1438
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!