MEDICIÓN DE VIDA MEDIA DE PORTADORES MINORITARIOS EN CELDAS SOLARES DE Si CRISTALINO: UNA VARIANTE DE LA TÉCNICA OCVD

Se analiza teórica y experimentalmente una variante de la técnica de decaimiento de la tensión a circuito abierto (OCVD) para la medición de la vida media de portadores minoritarios en la región de la base de celdas solares de silicio monocristalino. En la misma la excitación consiste en una fuente...

Olles dieđut

Bibliográfalaš dieđut

Váldodahkkit:	C. J. Bruno, M. G. Martínez Bogado, J. C. Durán
Materiálatiipa:	Artigo
Giella:	Espanhol
Almmustuhtton:	CEILAP-UNIDEF-CONICET-CITEDEF 2013-08-01
Ráidu:	Anales (Asociación Física Argentina)
Liŋkkat:	https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/1047
Fáddágilkorat:	Lasit fáddágilkoriid Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!