MEDICIÓN DE VIDA MEDIA DE PORTADORES MINORITARIOS EN CELDAS SOLARES DE Si CRISTALINO: UNA VARIANTE DE LA TÉCNICA OCVD
Se analiza teórica y experimentalmente una variante de la técnica de decaimiento de la tensión a circuito abierto (OCVD) para la medición de la vida media de portadores minoritarios en la región de la base de celdas solares de silicio monocristalino. En la misma la excitación consiste en una fuente...
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| Κύριοι συγγραφείς: | , , |
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| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Espanhol |
| Έκδοση: |
CEILAP-UNIDEF-CONICET-CITEDEF
2013-08-01
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| Σειρά: | Anales (Asociación Física Argentina) |
| Διαθέσιμο Online: | https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/1047 |
| Ετικέτες: |
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