YOLO-LA: Prototype-Based Vision–Language Alignment for Silicon Wafer Defect Pattern Detection

With the rapid development of semiconductor manufacturing technology, methods to effectively control the production process, reduce variation in the manufacturing process, and improve the yield rate represent important competitive factors for wafer factories. Wafer bin maps, a method for characteriz...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי

Principais autores:	Ziyue Wang, Yichen Yang, Jianning Chu, Yikai Zang, Zhongdi She, Weikang Fang, Ruoxin Wang
פורמט:	Artigo
שפה:	Inglês
יצא לאור:	MDPI AG 2025-12-01
סדרה:	Micromachines
נושאים:	semiconductor defect detection wafer bin map YOLO vision language model
גישה מקוונת:	https://www.mdpi.com/2072-666X/17/1/67
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!