Genetic basis of flag leaf thickness and its contribution to yield in wheat (Triticum aestivum L.)

Abstract Background Previous studies on leaf morphological traits are predominantly focused on flag leaf length (FLL), width (FLW), and area (FLA), which are known to affect light interception. However, limited research has addressed on flag leaf thickness (FLT) and its intricate relationship with v...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Yanan Niu, Qixiang Huang, Huankun Yang, Tianxiao Chen, Chenchen Zhao, Fei Zheng, Chunji Liu, Haiyan Hu, Guoping Zhang, Lingzhen Ye, Meixue Zhou
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	BMC 2025-12-01
Շարք:	BMC Plant Biology
Խորագրեր:	Genetic analysis Flag leaf Yield potential Quantitative trait loci (QTL) Candidate genes
Առցանց հասանելիություն:	https://doi.org/10.1186/s12870-025-08014-3
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!