Experimental Characterization of Fault-Tolerant Circuits in Small-Scale Quantum Processors
Experiments conducted on open-access cloud-based IBM Quantum devices are presented for characterizing their fault tolerance using [4, 2, 2]-encoded gate sequences. Up to 100 logical gates are activated in the <italic>Ibmq_Bogota</italic> and <italic>Ibmq_Santiago</italic>...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
IEEE
2021-01-01
|
| தொடர்: | IEEE Access |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://ieeexplore.ieee.org/document/9638646/ |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|