QR Kod

Transient Process Optimization for Dual-Arm Cluster Tools With Wafer Revisiting

In wafer fabrication, it is imperative to minimize the transient process of cluster tools for the sake of on-demand and preventive maintenance. Due to the trend of multi-type and small-batch production, transient processes appear more and more frequently. Thus, the optimization problems of transient...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Jipeng Wang, Hesuan Hu, Chunrong Pan, Liang Li
Materyal Türü: Artigo
Dil:Inglês
Baskı/Yayın Bilgisi: IEEE 2021-01-01
Seri Bilgileri:IEEE Access
Konular:
Online Erişim:https://ieeexplore.ieee.org/document/9389780/
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!