STATISTICAL INVESTIGATION OF SYMMETRICAL CMOS OTA DEGRADATION
In this paper, symmetrical CMOS OTA degradation is investigated with using statistical methods. OTA’ s are degraded using 4155 parameter analyzer and output current change is observed. An appopriate fitting curve is realised with MATLAB programme by taking into consedaration the error. Lifetime of t...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
İstanbul University-Cerrahpasa
2008-03-01
|
| Loạt: | Electrica |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://electricajournal.org/index.php/pub/article/view/316 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|