Codi QR

Diode-Like Current Leakage and Ferroelectric Switching in Silicon SIS Structures with Hafnia-Alumina Nanolaminates

Silicon semiconductor-insulator-semiconductor (SIS) structures with high-k dielectrics are a promising new material for photonic and CMOS integrations. The “diode-like” currents through the symmetric atomic layer deposited (ALD) HfO<sub>2</sub>/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/HfO<sub>2</sub>… nanolayers...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autors principals: Vladimir P. Popov, Fedor V. Tikhonenko, Valentin A. Antonov, Ida E. Tyschenko, Andrey V. Miakonkikh, Sergey G. Simakin, Konstantin V. Rudenko
Format: Artigo
Idioma:Inglês
Publicat: MDPI AG 2021-01-01
Col·lecció:Nanomaterials
Matèries:
Accés en línia:https://www.mdpi.com/2079-4991/11/2/291
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!