Improved Algorithm of Dueling DQN for BSIM Parameter Extraction Task
Traditional Berkeley Short-channel IGFET Model (BSIM) parameter extraction methods are inefficient, time-consuming, and heavily dependent on the experience of specialists. To tackle these issues, this paper proposes a BSIM parameter extraction algorithm based on deep reinforcement learning, combinin...
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , , , , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
IEEE
2025-01-01
|
| Серии: | IEEE Journal of the Electron Devices Society |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://ieeexplore.ieee.org/document/11197319/ |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|