Impact of ferroelectric polarization dynamics on thermal reliability in Ferro-FinFETs
Abstract This paper systematically investigates the thermal failure mechanisms of 14 nm Ferro-FinFETs using the TCAD tools, incorporating both Preisach and thermodynamic models. A comparative analysis under programming (+ 4 V, 100 ns) and erasing (− 4 V, 100 ns) conditions reveals distinct ferroelec...
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , , , , , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
Springer
2026-05-01
|
| Серии: | Discover Nano |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://doi.org/10.1186/s11671-026-04582-x |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|