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The Relationship between Electron Transport and Microstructure in Ge<sub>2</sub>Sb<sub>2</sub>Te<sub>5</sub> Alloy

Phase-change random-access memory (PCRAM) holds great promise for next-generation information storage applications. As a mature phase change material, Ge<sub>2</sub>Sb<sub>2</sub>Te<sub>5</sub> alloy (GST) relies on the distinct electrical properties of different states to achieve information storag...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliografische Detailangaben
Hauptverfasser: Cheng Liu, Yonghui Zheng, Tianjiao Xin, Yunzhe Zheng, Rui Wang, Yan Cheng
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: MDPI AG 2023-01-01
Schriftenreihe:Nanomaterials
Schlagworte:
Online-Zugang:https://www.mdpi.com/2079-4991/13/3/582
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