Mã QR

Surface Passivation of Crystalline Silicon Wafer Using H<sub>2</sub>S Gas

We report the effects of H<sub>2</sub>S passivation on the effective minority carrier lifetime of crystalline silicon (c-Si) wafers. c-Si wafers were thermally annealed under an H<sub>2</sub>S atmosphere at various temperatures. The initial minority carrier lifetime (6.97 μs) of a c-Si wafer without...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Những tác giả chính: Jian Lin, Hongsub Jee, Jangwon Yoo, Junsin Yi, Chaehwan Jeong, Jaehyeong Lee
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI AG 2021-04-01
Loạt:Applied Sciences
Những chủ đề:
crystalline silicon
H<sub>2</sub>S
minority carrier lifetime
passivation
dangling bonds
Truy cập trực tuyến:https://www.mdpi.com/2076-3417/11/8/3527
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự