A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates

Due to a lower InN bandgap <inline-formula><math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><semantics><mrow><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">n</mi><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">r</mi><mi mathvariant="normal">g</mi><mi mathvariant="no...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Hlavní autoři:	Devki N. Talwar, Hao-Hsiung Lin, Jason T. Haraldsen
Médium:	Artigo
Jazyk:	Inglês
Vydáno:	MDPI AG 2025-03-01
Edice:	Nanomaterials
Témata:	optical constants of InN GaN reflectivity absorption and transmission spectra InxGa1−xN/Sapphire film thickness model dielectric function
On-line přístup:	https://www.mdpi.com/2079-4991/15/7/485
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!