A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates

Due to a lower InN bandgap <inline-formula><math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><semantics><mrow><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">n</mi><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">r</mi><mi mathvariant="normal">g</mi><mi mathvariant="no...

Полное описание

Библиографические подробности

Главные авторы:	Devki N. Talwar, Hao-Hsiung Lin, Jason T. Haraldsen
Формат:	Artigo
Язык:	Inglês
Опубликовано:	MDPI AG 2025-03-01
Серии:	Nanomaterials
Предметы:	optical constants of InN GaN reflectivity absorption and transmission spectra InxGa1−xN/Sapphire film thickness model dielectric function
Online-ссылка:	https://www.mdpi.com/2079-4991/15/7/485
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!