A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates

Due to a lower InN bandgap <inline-formula><math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><semantics><mrow><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">n</mi><mi mathvariant="normal">e</mi><mi mathvariant="normal">r</mi><mi mathvariant="normal">g</mi><mi mathvariant="no...

முழு விளக்கம்

சேமிக்கப்பட்டது:

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
முதன்மை ஆசிரியர்கள்:	Devki N. Talwar, Hao-Hsiung Lin, Jason T. Haraldsen
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	MDPI AG 2025-03-01
தொடர்:	Nanomaterials
பொருள்கள்:	optical constants of InN GaN reflectivity absorption and transmission spectra InxGa1−xN/Sapphire film thickness model dielectric function
ஆன்லைன் அணுகல்:	https://www.mdpi.com/2079-4991/15/7/485
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates

ஒத்த வளங்கள்