Single-Bilayer Graphene Test Structures for Kelvin Probe Microscopy

A new technique for determining the point spread function, which is required for measuring the surface potential using Kelvin probe microscopy (KPM), is presented. The method involves using a silicon carbide substrate coated with single-layer and bilayer graphene as a test structure and obtaining KP...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Sergey P. Lebedev, Ilya A. Eliseyev, Mikhail S. Dunaevskiy, Ekaterina V. Gushchina, Alexander A. Lebedev
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	MDPI AG 2023-06-01
سلاسل:	C
الموضوعات:	scanning probe microscopy Kelvin probe microscopy graphene SiC thin films
الوصول للمادة أونلاين:	https://www.mdpi.com/2311-5629/9/3/62
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!