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Multi-scale alignment to buried atom-scale devices using Kelvin probe force microscopy

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Autori principali: Namboodiri Pradeep, Wyrick Jonathan, Stan Gheorghe, Wang Xiqiao, Fei Fan, Kashid Ranjit Vilas, Schmucker Scott W., Kasica Richard, Barnes Bryan M., Stewart Jr Michael D., Silver Richard M.
Natura: Artigo
Lingua:Inglês
Pubblicazione: De Gruyter 2024-02-01
Serie:Nanotechnology Reviews
Soggetti:
Accesso online:https://doi.org/10.1515/ntrev-2023-0196
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