Multi-scale alignment to buried atom-scale devices using Kelvin probe force microscopy
-д хадгалсан:
| Үндсэн зохиолчид: | , , , , , , , , , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Хэл сонгох: | Inglês |
| Хэвлэсэн: |
De Gruyter
2024-02-01
|
| Цуврал: | Nanotechnology Reviews |
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | https://doi.org/10.1515/ntrev-2023-0196 |
| Шошгууд: |
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|