Design and Fabrication of a High-Speed Atomic Force Microscope Scan-Head

A high-speed atomic force microscope (HS-AFM) requires a specialized set of hardware and software and therefore improving video-rate HS-AFMs for general applications is an ongoing process. To improve the imaging rate of an AFM, all components have to be carefully redesigned since the slowest compone...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Luke Oduor Otieno, Bernard Ouma Alunda, Jaehyun Kim, Yong Joong Lee
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	MDPI AG 2021-01-01
سلاسل:	Sensors
الموضوعات:	atomic force microscopy high-speed atomic force microscope high-speed atomic force microscope scan-head
الوصول للمادة أونلاين:	https://www.mdpi.com/1424-8220/21/2/362
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!