Multi-Technique Approach for Work Function Exploration of Sc₂O₃ Thin Films

Thin films based on scandium oxide (Sc₂O₃) were deposited on silicon substrates to investigate the thickness effect on the reduction of work function. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray diffraction (XRD), energy dispersive X-ray reflectivity (EDXR), atomic force micr...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Alessio Mezzi, Eleonora Bolli, Saulius Kaciulis, Alessandro Bellucci, Barbara Paci, Amanda Generosi, Matteo Mastellone, Valerio Serpente, Daniele Maria Trucchi
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2023-04-01
Շարք:	Nanomaterials
Խորագրեր:	scandium oxide work function XPS UPS AFM XRD
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/2079-4991/13/8/1430
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!