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Extreme statistics in nanoscale memory design

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design brings together some of the world’s leading experts in statistical EDA, memory design, device variability modeling and reliability modeling, to compile theoretical and practical results in one complete reference on statistical techniques for extreme st...

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Singhee, Amith., Rutenbar, Rob A.
Formato: Livro
Idioma:Inglês
Publicado em: Springer US :, 2010
Edição:1st ed. 2010.
Assuntos:
Acesso em linha:https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000903201&local_base=UFR01
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