A carregar...
Nanoscale memory repair
Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. As a result, repair techniques have been indispensable for nano-scale memories. Without these techniques, even modern MPUs/...
Na minha lista:
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Formato: | Livro |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Springer New York,
2011
|
| Colecção: | Integrated Circuits and Systems, |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000903444&local_base=UFR01 |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|