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Por Heidenreich, P A, McDonald, K M, Hastie, T, Fadel, B, Hagan, V, Lee, B K, Hlatky, M A
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (1999)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (1999)
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Artigo
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Por Shekelle, P, Morton, S, Atkinson, S, Suttorp, M, Tu, W, Heidenreich, P, Gubens, M, Maglione, M, Jungvig, L, Roth, E, Newberry, S
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
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Artigo
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Por Mulrow, C, Lawrence, V, Ackermann, R, Gilbert Ramirez, G, Morbidoni, L, Aguilar, C, Arterburn, J, Block, E, Chiquette, E, Gardener, C, Harris, M, Heidenreich, P, Mullins, D, Richardson, M, Russell, N, Vickers, A, Young, V
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2000)
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Artigo