Optimización del Análisis de Falla de Tarjetas Electrónicas con Seis Sigma
Este artículo presenta la aplicación de la metodología de Seis Sigma para la investigación e identificación de los defectos que generaron fallas funcionales en tarjetas electrónicas para telecomunicaciones. Dichas tarjetas fueron retornadas a una planta de manufactura para el diagnóstico de la falla...
Zapisane w:
| Wydane w: | Conciencia Tecnológica |
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| 1. autor: | |
| Format: | Artigo |
| Język: | Espanhol |
| Wydane: |
Instituto Tecnológico de Aguascalientes
2019
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| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94459796008 https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/ https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/html/ https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/94459796008.epub https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/movil |
| Etykiety: |
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