Optimización del Análisis de Falla de Tarjetas Electrónicas con Seis Sigma
Este artículo presenta la aplicación de la metodología de Seis Sigma para la investigación e identificación de los defectos que generaron fallas funcionales en tarjetas electrónicas para telecomunicaciones. Dichas tarjetas fueron retornadas a una planta de manufactura para el diagnóstico de la falla...
I tiakina i:
| I whakaputaina i: | Conciencia Tecnológica |
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| Kaituhi matua: | |
| Hōputu: | Artigo |
| Reo: | Espanhol |
| I whakaputaina: |
Instituto Tecnológico de Aguascalientes
2019
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| Ngā marau: | |
| Urunga tuihono: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94459796008 https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/ https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/html/ https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/94459796008.epub https://www.redalyc.org/journal/944/94459796008/movil |
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