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Software de análisis de patrones de RHEED para medición in situ de velocidad de crecimiento y relajación de películas delgadas crecidas por Epitaxia de Haces Moleculares
El monitoreo de la intensidad del spot reflejado en una secuencia de patrones de RHEED es una de las técnicas masimportantes para el control del de películas delgadas y hetero-estructuras sofisticadas crecidas por MBE. La curva deoscilaciones en la intensidad RHEED es usada para medir in-situ, exact...
Kaydedildi:
| Yayımlandı: | Superficies y vacío |
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| Asıl Yazarlar: | , |
| Materyal Türü: | Artigo |
| Dil: | Espanhol |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2006
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| Konular: | |
| Online Erişim: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94219204 |
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