Lanean...
Análisis estructural de nanocompósitos de Ge/ZnO
Se realiza análisis estructural por difracción de rayos-X (XRD) a películas compósitas de Ge/ZnO. Las películas fuerondepositadas por la técnica de sputtering r.f. alternativa. Las películas compósitas se trataron térmicamente a diferentestemperaturas en ambiente de argón. Mediante las imágenes de...
Gorde:
| Argitaratua izan da: | Superficies y vacío |
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| Egile Nagusiak: | , , |
| Formatua: | Artigo |
| Hizkuntza: | Espanhol |
| Argitaratua: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2003
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| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216203 |
| Etiketak: |
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