Obtención y caracterización de TiSi2
En el departamento de Electrónica del INAOE se desarrolla un proyecto que tiene como fin la reducción de las dimensiones mínimas de 10 a 3 m en el Laboratorio de Microelectrónica. Este escalamiento implica la reducción en las profundidades de unión, ancho de líneas de interconexión y capas aislantes...
Shranjeno v:
| izdano v: | Superficies y vacío |
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| Principais autores: | , |
| Format: | Artigo |
| Jezik: | Espanhol |
| Izdano: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2001
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| Teme: | |
| Online dostop: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201326 |
| Oznake: |
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