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Capacitance Variations in Cd3As2 Thin Film Sandwich Structures
Cadmium arsenide (Cd3As2) is a high conductivity II-V semiconductor. Following a recent dc investigation, capacitance has been measured as a function of film thickness, temperature (163 - 453 K), and frequency (100 Hz - 20 kHz) in Ag-Cd3As2-Al structures. There was a decrease with frequency and an i...
保存先:
| 出版年: | Superficies y vacío |
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| 主要な著者: | , |
| フォーマット: | Artigo |
| 言語: | Inglês |
| 出版事項: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
1999
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| 主題: | |
| オンライン・アクセス: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200960 |
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