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Formation Process and Material Properties of Reactive Sputtered IrO2 Thin Films

IrO2 thin films were deposited by reactive sputtering in various O2 (O2+Ar) mixing ratios (OMR). The formation of IrO2 could be classified into two classes as depending on the O2 flow ratio. At low OMR (10 ~30%), the Ir target and Si substrate are not oxidized and high deposition rate and high cryst...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Superficies y vacío
Hauptverfasser: R. H. Horng, D. S. Wuu, L. H. Wu, M. K. Lee
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 1999
Schlagworte:
Online Zugang:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200936
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