LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS
Se presenta una revisión de la técnica de Fotorreflectancia (FR) desde su fundamentación teórica hasta algunas de sus aplicaciones. La fotorreflectancia es una técnica de modulación no destructiva que no requiere preparación previa de la muestra, es empleada ampliamente para el estudio de la estruct...
Збережено в:
| Опубліковано в:: | Scientia Et Technica |
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| Автори: | , , |
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Espanhol |
| Опубліковано: |
Universidad Tecnológica de Pereira
2008
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| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84920503063 |
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