LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS

Se presenta una revisión de la técnica de Fotorreflectancia (FR) desde su fundamentación teórica hasta algunas de sus aplicaciones. La fotorreflectancia es una técnica de modulación no destructiva que no requiere preparación previa de la muestra, es empleada ampliamente para el estudio de la estruct...

Cijeli opis

Bibliografski detalji

Izdano u:	Scientia Et Technica
Glavni autori:	FRANCY NELLY JIMÉNEZ G., CARLOS VARGAS HERNÁNDEZ, JESÚS FABIÁN JURADO
Format:	Artigo
Jezik:	Espanhol
Izdano:	Universidad Tecnológica de Pereira 2008
Teme:	Ingeniería
Online pristup:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84920503063
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