Nanoindentación basada en espectroscopia de fuerzas con un microscopio de fuerza atómica
Se presenta la implementación de un método para indentar superficies rígidas a nanoescala utilizando un microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Microscopy-AFM). Esta se basa en el modo de espectroscopia de fuerzas (Force Spectroscopy-FS) que usualmente se encuentra disponible en los AFM, la cual...
Na minha lista:
| Udgivet i: | Ingeniería y Ciencia |
|---|---|
| Hovedforfatter: | |
| Format: | Artigo |
| Sprog: | Espanhol |
| Udgivet: |
Universidad EAFIT
2008
|
| Fag: | |
| Online adgang: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=83540805 |
| Tags: |
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|